基本信息

韩银和,研究员,博导 
电子邮件:yinhes@ict.ac.cn
联系电话:010-62600717
手机号码:
通信地址:北京市海淀区科学院南路6号
邮政编码:100190

研究领域

计算机体系结构和芯片,智能硬件,机器人芯片系统
想进一步了解我的研究信息,可访问我的主页:
http://www.carch.ac.cn/~yinhes/

招生信息

欢迎报考!

本人每年度大致能招生2名硕士,2名博士,和李晓维老师一起招生2名硕士,2名博士 。

未来的时代是网络化、智能化的信息时代,我们小组以为未来智能时代、机器人时代提供核心大脑芯片为使命,研究为机器人、智能硬件提供更高性能、更强控制能力、更高智能的原创方法。 小组以培养创新型精英人才为目标,在领域顶级会议上发表多篇论文,是在国际上该领域有较高知名度的研究组。


课题组历来有重视研究生培养的传统,研究生的成绩也非常突出。​已毕业的学生多次获得国家/科学院/计算所的奖励,其中:2名获得中国计算机学会优秀博士论文奖(全国每年约10左右),1名获得院长奖学金优秀奖学金,1名所长奖学金特别奖学金,1名科学院冠名奖学金,5名获得计算所冠名奖学金, 2名博士生在体系结构领域顶级国际会议ISCA上发表论文。


毕业学生在国内高校及顶级科研机构就业形势好。有4名博士生留科学院系统工作,3名博士生去高校(均为211以上高校),1名硕士生创业,1名去政府部门工作,2名去著名外企/国企工作。 我们鼓励学生利用所创新的知识自主创业,研产结合。我们也鼓励学生在博士毕业后,能延续自己的学术生涯,去高校继续从事科学研究,培养人才。

我们课题组非常国际化,鼓励学生出访交流,机会很多,每年都会邀请10余名国外知名学者来课题组交流。

工作经历

2014年9月- ,中科院计算所(计算机体系结构国家重点实验室),研究员
2008年9月-2014年9月,中科院计算所(计算机体系结构国家重点实验室),副研究员
2006年3月2008年9月,中科院计算所(先进测试技术实验室),助理研究员
 
积极参与国际学术会议,是多个国际著名学术会议的程序委员会委员。

教授课程

   

专利与奖励

因为在芯片方面的工作,他获得了中科院院长特别奖,中科院优秀博士论文,中国计算机学会优秀博士论文,以及全国优秀博士论文提名(奖)等。他还获得IEEE Asian Test Symposium 2003的最佳论文奖,北京市科技进步奖,计算机学会王选奖等。 

重要学术奖励
2006年 中国科学院院长奖学金特别奖。
2005年 中国计算机学会创新奖“集成电路逻辑测试基础技术”(排名第三)
2003年 IEEE Asia Test Symposium最佳论文奖(IEEE Test Technology Technical Council 颁发)。
2005年 IEEE/ACM Asian South Pacific Design Automation Conference最佳论文奖提名,测试领域唯一。
2005年 获“中国科学院计算技术研究所所长特别奖”。 
2005年 中国科学院计算技术研究所SONY奖。 

专利:
1. 韩银和、李晓维,“一种单输出无反馈时序测试影响压缩电路”,专利号:ZL031490743, 授权日:2006年9月27日。
2. 韩银和,李晓维,“用于交流扫描测试中的片上快速信号生成电路”,专利号:ZL200410004831. 2,授权时间:2008年3月5日。
3. 韩银和,李晓维,“一种快速的集成电路测试流程优化方法”,专利号:ZL200410006727. 7,授权时间:2007年8月8日。
4. 韩银和,李晓维,“一种卷积码的编码方法” ,专利号:ZL200410045981. 8,授权时间:2008年2月6日。
5. 韩银和,李晓维,“一种应用于系统级芯片测试中的芯核并行包装电路和方法”, 专利号:ZL200410047572. 1,授权时间:2007年6月27日。

出版信息

1. Referred Conference Papers 

2011
[C31] Binzhang Fu, Yinhe Han, Jun Ma, Huawei Li, Xiaowei Li, "An Abacus Turn Model for Time/Space-Efficient Reconfigurable Routing", Will appear in Proc. of IEEE/ACM International Symposium on Computer Architecture(ISCA), 2011.
[C30] Jianbo Dong, Lei Zhang, Yinhe Han, Xiaowei Li, “Wear Rate Leveling: Lifetime Enhancement of PRAM with Endurance Variation”, Will appear in Proc. of IEEE/ACM Design Automation Conference (DAC), 2011.
[C29] Jianliang Gao, Yinhe Han, Xiaowei Li, “Avoiding Data Repetition and Data Loss in Debugging Multiple-Clock Chips”, Will appear in Proc. of IEEE/ACM Design, Automation, and Test in Europe (DATE), 2011.(PDF)
[C28] Ying Wang, Lei Zhang, Yinhe Han, Huawei Li and Xiaowei Li, “Smart Memory: exploiting and managing abundant off-chip optical bandwidth”, Will appear in Proc. of IEEE/ACM Design, Automation, and Test in Europe (DATE), 2011. (PDF)
[C27] Cheng Liu, Lei Zhang, Yinhe Han, Xiaowei Li, “Vertical Interconnects Squeezing in Symmetric 3D Mesh Network-on-Chip”, Will appear in Proc. of Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC), 2011.(PDF)
[C26] Cheng Liu, Lei Zhang, Yinhe Han, Xiaowei Li, “A Resilient On-chip Router Design Through Data Path Salvaging”, Will appear in Proc. of Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC), 2011.(PDF)
2010
[C25] Huawei Li, Dawen Xu, Yinhe Han, Kwang-Ting Cheng and Xiaowei Li, “nGFSIM : A GPU-Based Fault Simulator for 1-to-n Detection and its Applications”, Proc. of IEEE International Test Conference (ITC), paper 12.1, Nov. 2010.(PDF)
[C24]Song Jin, Yinhe Han, Huawei Li and Xiaowei Li, “P2CLRAF: An Pre- and Post-silicon Cooperated Circuit Lifetime Reliability Analysis Framework”, Proc. of IEEE Asian Test Symposium (ATS), 2010. (PDF)
[C23]Ying Wang, Lei Zhang, Yinhe Han, Huawei Li and Xiaowei Li, “Address Remapping for Static NUCA in NoC-based Degradable Chip-Multiprocessors”, Proc. of IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable
Computing (PRDC), 2010. (PDF)
[C22] Guihai Yan, Xiaoyao Liang, Yinhe Han, Xiaowei Li , “Leveraging the Core-Level Complementary Effects of PVT Variations to Reduce Timing Emergencies in Multi-Core Processors”, Proc. of IEEE/ACM International Symposium on Computer Architecture (ISCA), 2010. (PDF)
[C21] Bingzhang Fu, Yinhe Han, Huawei Li, Xiaowei Li , “Binary-Tree Waveguide Connected Time/Power Efficient Optical Network-on-Chip”, Proc. of IEEE/ACM Design, Automation, and Test in Europe (DATE), 2010. (PDF)
[C20] Lei Zhang, Yu Yue, Yinhe Han, Xiaowei Li, Shangping Ren ,”Performance-Asymmetry-Aware Topology Virtualization for Defect-tolerant NoC-Based Many-core Processors”, Proc. of IEEE/ACM Design, Automation, and Test in Europe (DATE), 2010.(PDF)
2009
[C19] Jun Liu, Yinhe Han, Xiaowei Li , “Extended Selective Encoding of Scan Slices for Reducing Test Data and Test Power”, Proc. of IEEE Asian Test Symposium (ATS), 2009.
[C18] Song Jin, Yinhe Han, Lei Zhang, Huawei Li , Xiaowei Li and Guihai Yan,” M-IVC: Using Multiple Input Vectors to Minimize Aging-induced Delay”, Proc. of IEEE Asian Test Symposium (ATS), 2009.(PDF)
[C17] Jianbo Dong, Lei zhang, Yinhe Han, Guihai Yan and Xiaowei Li , “Variation-Aware Scheduling for Chip Multiprocessors with Thread Level Redundancy”, Proc. of IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing (PRDC), 2009.(PDF)
[C16] Bingzhang Fu, Yinhe Han, Huawei Li and Xiaowei Li ,”A New Multiple-Round DOR Routing for 2D Network-on-chip Meshes”,Proc. of IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing (PRDC), 2009.(PDF)
[C15] Guihai Yan, Yinhe Han, Hui Liu, Xiaoyao Liang, Xiaowei Li, "MicroFix: Exploiting Path-grained Timing Adaptability for Improving Power-Performance Efficiency", International Symposium on Low Power Electronics and Design(ISLPED), 2009.(PDF)
[C14] Guihai Yan, Yinhe Han, Xiaowei Li, “A Unified Online Fault Detection Scheme via Checking of Stability Violation”, Design, Automation and Test in Europe 2009. (PDF)
[C13] Jianliang Gao, Yinhe Han, and Xiaowei Li, "A New Post-silicon Debug Approach Based on Suspect Window", VLSI Test Symposium(VTS), 2009. (PDF) 

2. Journals

2010
[J20]Jianbo Dong, Lei Zhang, Yinhe Han, Guihai Yan and Xiaowei Li, “Performance-asymmetry-aware scheduling for Chip Multiprocessors with static core coupling”, Journal of Systems Architecture, 56, 534-542, 2010.
[J19] Jianliang Gao, Yinhe Han, Xiaowei Li, “A Novel Post-Silicon Debug Mechanism Based on Suspect Window”, IEICE Transactions on Information and Systems, Vol.E93-D No.5 pp.1175-1185, 2010.
[J18] Jun Liu, Yinhe Han, Xiaowei Li, “Extended Selective Encoding for Reducing Test Data and Test Power”, IEICE Transactions on Information and Systems ,Vol.E93-D No.8, pp.2223-2232,2010.
2009
[J17] Lei Zhang, Yinhe Han, Qiang Xu, Xiaowei Li and Huawei Li. “On Topology Reconfiguration for Defect-Tolerant NoC-Based Homogeneous Manycore Systems”, IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, vol.17, pp.1173-1186, 2009. (PDF)
[J16] Wei Wang, Yin-He Han, Xiao-Wei Li, Fang Fang. “Co-optimization of Dynamic/Static Test Power in Scan Test”, Chinese Journal of Electronics. (PDF)

科研活动

留所工作后,在国家973项目支持下,他开展了可靠计算方向的研究工作,针对多核处理器中时序安全性问题,提出解决方法;开展了多核互连方向研究工作,针对片上网络中出现的通信热点问题,提出了可重构路由设计,优化了性能;上述2项成果发表在体系结构领域顶级会议ISCA上,ISCA 在体系结构领域享有盛誉,国内学者很少发表,我们连续2年在该会议上发表论文。

研究大规模数字电路的测试压缩方法,发现了时序压缩序列和矩阵二维空间变换之间的满射关系,建立了对测试响应进行时序压缩的理论分析方法,首次证明了卷积编码压缩电路的特性,拓展了内建自测试的基础理论;该研究成果中的部分技术获得IEEE 亚洲测试会议的最佳论文奖, 陆续的研究成果也获得了IEEE 亚洲太平洋地区设计自动化会议的最佳论文奖提名,被邀请在该会议的博士论坛上做展示,部分研究成果已经被顶级EDA厂商Synopsys吸收。论文已被国外同行引用20余次。所提测试压缩技术被美国学者编著的测试专著《VLSI Test Principle and Architecture》和《System-on-Chip Test Architectures Nanometer Design for Testability》作为一节详细介绍。 

研究项目
1.863探索类项目,“大规模多核处理器系统片上高性能互连技术研究”, 在研
2.国家自然科学基金面上项目,“片上网络芯片中路由器和互连线的测试方法研究”,在研
3.863探索类项目(副组长),“多处理器片上系统运行中低功耗关键技术研究”,在研
4.NSFC与香港RGC联合科研基金项目(陆方合作申请人之一),“片上系统测试架构设计与优化:针对噪声引起的测试良产率下降的研究”,在研

合作情况

   
项目协作单位

Research Collaborators

  • Shangping Ren (Associate Professor of Illinois Institute of Technology)
  • Qiang Xu (Assistant Professor of the Chinese University of Hong Kong)
  • Zuying Luo (Associate Professor of Beijing Normal University)

指导学生